Указания содержат краткое изложение теории к каждой лабораторной работе. Рассмотрены методы измерения различных физических величин на оборудовании фирмы PHYWE, а также машинная обработка результатов эксперимента.

Практикум содержит краткое изложение теории излучения светодиодов и теплового излучения.

Указания содержат краткое изложение вопросов блескости источников света и отражающих поверхностей, приводящих к ухудшению условий зрительной работы.

Практикум содержит краткое изложение устройства и принципа действия плазменных источников оптического излучения низкого давления.

Практикум содержит краткое описание теории, лабораторных установок и методики экспериментального определения ряда физических величин для лабораторных работ: «Определение коэффициента поверхностного натяжения», «Экспериментальное изучение распределения Максвелла»,

Содержит краткое изложение состава оптического излучения, устройства и принципа действия ламп, излучающих ультрафиолетовые и инфракрасные лучи. Рассмотрено краткое устройство радиометров, обеспечивающих измерение светотехнических характеристик УФ и ИФ ламп.

Указания содержат краткое изложение теории к каждой лабораторной работе. Рассмотрены методы измерения различных физических величин на оборудовании фирмы PHYWE, а также машинная обработка результатов эксперимента.

Практикум содержит краткое описание теории, лабораторных установок и методики экспериментального определения ряда физических величин для лабораторных работ: «Определение коэффициента поверхностного натяжения», «Экспериментальное изучение распределения Максвелла», «Изу

Содержит краткое описание рабочих установок и методики определения исследуемых величин. Предназначен для студентов дневной и заочной форм обучения всех специальностей, изучающих физику (раздел «Молекулярная физика и термодинамика»).

Содержат краткое изложение основных сведений о статических характеристиках логических микросхем.