Каталог

Автор
А.В. Сеничев
Год издания
2022 г.
Издательство
ДГТУ

Проект направлен на разработку новых интеллектуальных подходов для решения задач идентификации поверхностных и внутренних дефектов.

Автор
В.Э. Левчук
Год издания
2025 г.
Издательство
ДГТУ

История развития методов и устройств определения места повреждения (ОМП) в Российской практике началась с первой половины ХХ века, и получило активное развитие во второй половине.